随着近年来LED光效的不断提升，LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视，它是LED产品最重要的性能之一。寿命是可靠性的终极表现，然而LED的理论寿命很长，像传统光源采用2h45min开、15min关的循环测试到寿命终了，对LED产品的测量显然不现实。因此有必要对LED产品采用加速老化寿命试验，同时，也应当测试LED的热学特性、环境耐候性、电磁兼容抗扰度等与寿命和可靠性密切相关的性能，以综合分析LED的寿命。
LED产品制造中的每一个元件和环节都会对其可靠性和寿命产生影响，例如，LED结和基板的虚焊、LED荧光粉的热猝灭和退化、封装材料的退化以及驱动器的失效等，最后退化的可能才是LED照明（PN结）本身。这些因素导致LED产品失效（退化）的方式也不尽相同，一般可分为缓变退化（gradualdegradation）和瞬变退化（abrupt degradation）。
流明维持率下降，即光衰，一般以初始光通量为100%，当LED产品的流明维持率下降到初始值的70%或50%时，认为LED失效，流明维持寿命相应记为L50或L70；
　　颜色漂移，受到荧光粉或封装材料的变化，LED的颜色会在寿命期间内发生漂移，该漂移应在指定范围以内（如△u’v’≤0.007），超过范围则视为LED失效；
　　电性能变化，电性能变化能更为直观地监测；
　　开关次数，开关可能会对驱动等电路产生一定影响；
　　热阻变化和其它热特性参数曲线，热特性与寿命息息相关，对热特性的测量和分析有助于找出LED可靠性的薄弱环节；
　　LED的瞬变退化（失效）即LED的光输出突然降为0，其主要退化包括：抗电磁干扰能力：静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落；高低温冲击耐受性特性；盐雾、耐湿、振动等。
　　北美体系和IEC系统在对LED产品的寿命要求和试验方法方面都有所区别，但针对于LED灯具寿命的评估，二者都提出直接老化测试灯具，或根据封装LED、LED模块等的老化试验进行推算。
　　　　现对LM-80 和TM-21两个标准的要求总结如下：
　　适用范围：LED封装、模块、阵列等；
　　考察对象：只考察光通维持寿命，即缓变失效因素
　　老化温度：指定点壳温（Ts）为55℃，85℃和第三个指定温度，三个温度覆盖灯具中LED光源的Ts温度。
　　老化时间：6000h，推荐10000h；
　　样本数量要求及其与外推寿命时间的关系：20个以上样品，外推寿命最高为老化时间的6倍；10-19个，外推寿命最高为老化时间的5.5倍；
　　光色参数测试时间：至少每1000h测量一次；
　　对突然失效的处理：观察记录，调查确认突然失效是因为光源本身原因；
　　记录颜色衰变：有；