一、逐点校正技术概念
　　当前LED芯片生产制程现状，决定了即便是同批次生产出的LED芯片，其个体间发光强度与主波长依然存在相当大的差异性。对于LED显示应用来说，这种差异性将严重影响显示质量，必须首先通过分光分色对光度、色度以及电参数等指标进行分类筛选后，才能应用于同一张显示屏上。
　然而，用分光分色的方法来解决芯片个体光度色度不一致的问题，由于精度不足，后续工艺流程的影响，以及老化过程的光衰不一致等因素，并不能达到完美画质。此外，已使用一段时间后的显示屏也会因光衰不一致等因素显示质量下降，出现“花屏”，这也是分光分色鞭长莫及的。
　因此，业界尝试从显示屏制造的最后一道流程着手，通过对差异性的LED灯点采用差异性的驱动来解决该问题，这就是逐点校正。
　上世纪90年代后期，国内外出现逐点校正的理论雏形，并开启了这一技术的实践探索。然而，由于缺乏适用的通用数据采集工具以及技术壁垒等因素，该技术的研究长期处于不连续、不系统，自成一家缺乏交流的状态，逐点校正也缺乏一个公认的定义。
　　目前，比较合理的定义为：逐点校正，即通过对LED屏上的每颗灯点区域的亮度（和色度）数据进行采集，得出对于每颗灯点的校正系数（或对于每个像素的系数矩阵），将其反馈给显示屏的控制系统，由控制系统应用校正系数实现对每颗灯点的差异性驱动，从而大幅提高显示屏的像素亮度（色度）均匀性。
　　二、逐点校正技术组成
　从上面的定义可以看到，逐点校正技术可以分解为以下四个部分：
　1. 原始数据采集；
　2. 校正数据生成；
　3. 驱动控制；
　4. 采集系统与控制系统的结合；
　以下就这四个方面分别进行分析阐述。
　　2.1 原始数据采集
　原始数据采集是逐点校正的第一步，是最基础的一步，也是发展最缓慢最艰难的一步。按照采集参数看，可分为亮度数据和色度数据两种；按照采集对象分，可分为模块级采集，箱体级采集与全屏分区域采集；按照采集环境分，可分为工厂模式采集与现场模式采集；
　从采集的技术路线与工具的角度看，则大致可以分为以下几个方向：
　1. 机械装置+光度探头：即用机械传动装置控制光度探头依次逐个采集每颗灯点的数。早期的实验装置曾经是屏体垂直于地面放置，用机架等间距移动亮度计逐点测量。后来逐渐发展为机台形式，模块或单元板水平放置，探头垂直采集数据。为提高效率，单个机台可装置多个探头，笔者见闻中单机台最多探头数为16个，以箱体为单位进行采集。