你看了吗？AEC-Q102车用光电器件测试认证标准解读
AEC,Automotive Electronics Council，汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（Chrysler / Ford / GM）联合发起，并于1994年创立，会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。
AEC Q102，车用光电器件基于失效机制的应力测试资格，由AEC委员会制定，适用于车用光电器件的综合可靠性测试认证标准，是光电器件应用于汽车领域的基本门槛。
AEC-Q102 标准定义了汽车电子所有内外使用的分立光电半导体元器件(目前主要是车用LED、激光器件、激光二极管、激光三极管、光电二极管/三极管、光电耦合器、OE-MCM（AEC-Q102-003）)的最低应力测试要求和测试条件，其每项测试都是针对车用光电器件所可能遭受的严酷环境来设计的，以保护行车时的安全性。
AEC-Q102测试流程
AEC Q102目前最新版本是2020年的A版，在原有测试项目的基础上稍微有些调整，如WHTOL1、WHTOL2，不再要求Tsolder焊点温度的管控（实践中比较困难），而是以Tambient温度为试验基准；增加了Board Flex板弯曲测试，补充了SMD器件结构强度的试验要求，该要求对于光电器件企业来说可能稍微陌生…
在AEC Q102标准中，基本原则是根据器件类型、封装形貌等特征，执行并通过必要的测试项目，可参考如下：
测试项目分类： l各项参数测试：如光电性能测试、外观、参数验证、物理尺寸、热阻等 l环境应力实验：按照军用电子器件环境适应性标准和汽车电子通用环境适应性标准，执行器件的应力实验，如高温工作、高温反偏、高温高湿工作、高温高湿反偏、温度循环、功率温度循环、间歇工作寿命、低温工作寿命、脉冲工作、振动、冲击、气密性、凝露、硫化氢、混合气体等 l工艺质量评价：针对封装、后续电子组装工艺，以及使用可靠性进行的相应元器件工艺质量评价，如ESD、DPA、端子强度、耐焊接热、可焊性、绑线拉力剪切力、芯片推力、晶须生长等
AEC-Q102测试项目
AEC Q102测试项目列表
AEC Q102 Rev A, April 6 2020
|
华碧实验室能力范围及AEC-Q102技术要求 | |||
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序号 |
测试项目 |
缩写 |
测试方法 |
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A组 加速环境应力试验 | |||
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A1 |
预处理 |
PC |
JEDEC JESD22-A113 |
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A2a |
高温湿工作寿命1 |
WHTOL1 | JEDECJESD22-A101 |
|
A2b |
高温湿工作寿命2 |
WHTOL2 | JEDECJESD22-A101 |
|
A2c |
高湿度高温反向偏压 |
H3TRB |
JEDECJESD22-A101 |
|
A3a |
功率温度循环 |
PTC | JEDECJESD22-A105 |
|
A3b |
间歇使用寿命 |
IOL |
MIL-STD-750-1 Method 1037 |
|
A4 |
温度循环 |
TC |
JEDECJESD22-A104 |
|
B组 加速寿命应力试验 | |||
|
B1a |
高温使用寿命1 |
HTOL1 |
JEDECJESD22-A108 |
|
B1b |
高温使用寿命2 |
HTOL2 |
JEDECJESD22-A108 |
|
B1c |
高温反向偏压 |
HTRB |
JEDECJESD22-A108 |
|
B2 |
低温使用寿命 |
LTOL |
JEDECJESD22-A108 |
|
B3 |
脉冲寿命 |
PLT |
JEDECJESD22-A108 |
|
C组 封装组合完整性测试 | |||
|
C1 |
破坏性物理分析 |
DPA |
Appendix 6 |
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C2 |
物理尺寸 |
PD |
JEDEC JESD22-B100 |
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C3 |
邦线强度 |
WBP |
MIL-STD-750-2 Method 2037 |
|
C4 |
邦线剪切 |
WBS |
JESD22-B116 |
|
C5 |
芯片剪切 |
DS |
MIL-STD-750-2 Method 2017 |
|
C6 |
端子强度 |
TS |
MIL-STD-750-2 Method 2036 |
|
C7 |
凝露 |
DEW |
AEC-Q102-001 |
|
C8 |
耐焊接热 |
RSH(-wave) |
Leadcontaining devices per JESD22-B106Lead (Pb)-free devicesperAEC-Q005 |
|
C9 |
热阻 |
TR |
JEDECJESD51-50 JESD51-51 JESD51-52 |
|
C10 |
可焊性 |
SD |
JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC60068-2-20(Through hole) |
|
C11 |
晶须生长 |
WG |
AEC-Q005 |
|
C12 |
硫化氢 |
H2S |
IEC 60068-2-43 |
|
C13 |
混合气流测试 |
FMG |
IEC 60068-2- 60 Test method 4 |
|
C14 |
板弯曲 |
BF |
AEC-Q102-002 |
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E组 光电验证试验 | |||
|
E0 |
目检 |
EV |
JEDEC JESD22-B101 |
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E1 |
应力前后电气和光度试验 |
TEST |
Section2.3.7&User specification orsupplier'sstandard specification |
|
E2 |
参数验证 |
PV |
IndividualAEC user specification |
|
E3 |
静电放电特性HBM |
HBM |
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 |
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E4 |
静电放电特性CDM |
CDM |
AEC-Q101-005 |
|
G组 空腔封装完整性测试 | |||
|
G1 |
恒定加速度 |
CA |
MIL-STD-750-2Method 2006 |
|
G2 |
变频振动 |
VVF |
JEDEC JESD22-B103 Condition 1 |
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G3 |
机械冲击 |
MS |
JEDEC JESD22-B110 |
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G4 |
密封性 |
HER |
JEDEC JESD22-A109 |
新部件可靠性试验标准流程
现有合格部件的评估流程
华碧实验室车规电子AEC-Q102检测认证
华碧实验室是国内领先的集检测、鉴定、认证和研发为一体的第三方检测与分析的新型综合实验室，目前已成功协助300多家汽车光电半导体企业制定相对应的AEC-Q102验证步骤与实验方法，并顺利通过AEC-Q系列认证。
华碧实验室提供专业的光电器件、光电模块、光电显示、激光组件的完整分析服务，服务能力和项目覆盖全球车厂和一供，并建立持续紧密的合作关系，是AEC-Q测试认证的最佳合作伙伴，华碧能够为光电半导体提供一站式测试认证服务：
l开发测试计划：依据产品使用条件和质量指标,定义符合车电测试和认证计划;
l测试方案开发
l测试夹具评估和制作
l测试程序开发和调试
l失效分析和改善建议
l整合AEC-Q102 测试报告
l产品认证证书
l技术顾问：提供定制化项目开发，包含光电模组部分
测试交流，刘工，13625289200，附件为AECQ102标准
- AEC-Q102_Rev_A.pdf
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