因可处理200mm晶圆,该公司的常温粘合技术可使形成有硅贯通孔的晶圆实现高可靠性的多片层叠。目前DRAM及闪存等领域已在探讨采用这种多片的晶圆级层叠。以往使用伴随加热的粘合技术时,存在最上层的粘合面如何加热,以及元器件特性随加热而劣化等技术课题。所以内存厂商几乎没有公布过成功实现2层以上层叠的开发成果。
三菱重工的常温粘合技术系与日本产业技术综合研究所共同开发。除了不会因热的影响而变形之外,还具备其他特点,诸如无需加热及冷却时间,可提高处理速度,而且还能够与硅、金属、陶瓷及化合物半导体等多种材料粘合等。
在粘合硅与带氧化膜的晶圆时,通常使用以等离子体活化粘合面,并加温至约200℃的热退火,然后再压焊的“等离子活化粘合”技术。但因等离子体活化粘合包含有加热处理,因此当粘合材料之间的热膨胀系数不同时,粘合后由残余应力造成的变形可能会导致元器件的特性劣化。